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掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope, STM)是一種基于量子隧穿效應的高分辨率表面分析儀器,能夠在原子尺度上直接觀測導電...
LEEM是廣泛應用于材料科學領域的高技術分析儀器,能集原位觀測、超快及光電子成像于一體,即我們所稱的“長眼睛的超級XPS“,能對薄膜以及二維材料、鋰離子電池、鈣...
LEEM是廣泛應用于材料科學領域的高技術分析儀器,能集原位觀測、超快及光電子成像于一體,即我們所稱的“長眼睛的超級XPS",能對薄膜以及二維材料、鋰離子電池、鈣...
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